Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych Książka
Wydawnictwo: | PWN |
Rodzaj oprawy: | Okładka twarda |
Wydanie: | 1 |
Liczba stron: | 450 |
Rok wydania: | 2023 |
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.
Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
Szczegółowe informacje na temat książki Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Wydawnictwo: | PWN |
EAN: | 9788301232962 |
Rodzaj oprawy: | Okładka twarda |
Wydanie: | 1 |
Liczba stron: | 450 |
Rok wydania: | 2023 |
Data premiery: | 2023-11-13 |
Język wydania: | polski |
Podmiot odpowiedzialny: | Wydawnictwo Naukowe PWN S.A. Gottlieba Daimlera 2 02-460 Warszawa PL e-mail: [email protected] |
Podobne do Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Oceny i recenzje książki Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Pomóż innym i zostaw ocenę!
Pomóż innym i zostaw ocenę!